通用微系統組件測試與知識系統設計實現
楊丹丹; 陳忠睿; 黃禹銘; 孫毅 中國電子科技集團公司第二十九研究所; 四川成都610036
關鍵詞：微系統組件 自動測試 數據庫 知識庫
摘要：介紹了為實現小批量多品種微系統組件的通用測試,并在測試過程中提供相關知識幫助調試開發的通用測試與知識系統。通過對微系統組件測試指標和測試方法進行共性分析,將不同測試指標的儀器控制和測試方法封裝成獨立的測試模塊。運用抽象類、數據庫和條碼掃描等技術使儀器具有可換性,測試項目可配置,測試儀器可自動設置,測試結果可自動判定,測試工序有幫助,實現微系統組件的通用測試。通過知識系統的應用減少了自動測試系統的重復開發,降低了測試人員的要求,取得了良好的生產效益。
電子工藝技術雜志要求:
{1}摘要及關鍵詞：文中必須附中文摘要，內容包括目的、方法、結果(應給出主要數據)及結論4個部分內容，要求以第3人稱撰寫200-300字為宜，并附3-8個關鍵詞。有條件者，可將文題、作者、單位、摘要及關鍵詞譯成英文。
{2}來稿力求做到富有思想性，觀點新穎、概念準確、論證嚴謹、邏輯清晰、資料翔實、格式規范、文字精煉。
{3}注明所有作者的姓名，工作單位名稱、所在城市和郵政編碼(中、英文)，并注明第一作者的出生年、性別、籍貫(具體到城市或縣)、最高學歷、職稱、職務、主要研究方向、電子郵箱、詳細通信地址和聯系電話。
{4}文稿要求:內容真實，論點明確，論據充分，重點突出。說理透徹，文字精練，具有實用性、真實性、科學性和邏輯性。
{5}引用報刊資料，請注明作者姓名、文章標題、刊名、刊期 ；引用書籍資料，請注明作者姓名、書名、出版社、出版時間和頁碼 ；引用互聯網資料，請注明作者姓名、文獻名、網址和時間。正文中出現的外文請譯成中文并加上括號附在外文后。
注：因版權方要求，不能公開全文，如需全文，請咨詢雜志社
