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通用微系統組件測試與知識系統設計實現
楊丹丹; 陳忠睿; 黃禹銘; 孫毅 中國電子科技集團公司第二十九研究所; 四川成都610036
關鍵詞：微系統組件 自動測試 數據庫 知識庫
摘要：介紹了為實現小批量多品種微系統組件的通用測試,并在測試過程中提供相關知識幫助調試開發的通用測試與知識系統。通過對微系統組件測試指標和測試方法進行共性分析,將不同測試指標的儀器控制和測試方法封裝成獨立的測試模塊。運用抽象類、數據庫和條碼掃描等技術使儀器具有可換性,測試項目可配置,測試儀器可自動設置,測試結果可自動判定,測試工序有幫助,實現微系統組件的通用測試。通過知識系統的應用減少了自動測試系統的重復開發,降低了測試人員的要求,取得了良好的生產效益。
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